megvesz SN74ABT8646DWRG4 BYCHPS-vel
Vásároljon garanciával
SN74ABT8646DWRG4
- Cikkszám:
- SN74ABT8646DWRG4
- Gyártó:
- Leírás:
- IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
- Ólommentes állapot / RoHS állapot:
- Ólommentes / RoHS megfelelő
- elérhető mennyiség:
- 14657 Pieces
- Adatlap:
- SN74ABT8646DWRG4.pdf
Bevezetés
Az BYCHIPS az állomány forgalmazója SN74ABT8646DWRG4, rendelkezünk a készletekkel az azonnali szállításhoz és hosszú távú szállításhoz is kapható. Kérjük, küldje el nekünk a vásárlási tervét SN74ABT8646DWRG4 e-mailben, a lehető legjobb árat adjuk meg a tervnek megfelelően.
Műszaki adatok
| Tápfeszültség: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Szállító eszközcsomag: | 28-SOIC |
| Sorozat: | 74ABT |
| Csomagolás: | Tape & Reel (TR) |
| Csomagolás / tok: | 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width) |
| Üzemi hőmérséklet: | -40°C ~ 85°C |
| Bitek száma: | 8 |
| Szerelési típus: | Surface Mount |
| Nedvességérzékenységi szint (MSL): | 1 (Unlimited) |
| Gyártási szám: | SN74ABT8646DWRG4 |
| Logikai típus: | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers |
| Bővített leírás: | Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers IC 28-SOIC |
| Leírás: | IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC |
| Email: | [email protected] |
Kapcsolódó alkatrészek az SN74ABT8646DWRG4-hoz
| Kép | Cikkszám | Gyártók | Leírás | Kilátás |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT8652DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Vizsgálat |
|
SN74ABT863NT | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 9BIT 24DIP | Vizsgálat |
|
SN74ABT861DW | Texas Instruments | IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SOIC | Vizsgálat |
|
SN74ABT8646DWR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Vizsgálat |
|
SN74ABT8646DLG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Vizsgálat |
|
SN74ABT8646DL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SSOP | Vizsgálat |
|
SN74ABT863DW | Texas Instruments | IC BUS TRANSCVR 9BIT 24SOIC | Vizsgálat |
|
SN74ABT8646DWRE4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SOIC | Vizsgálat |
|
SN74ABT861NSRG4 | Texas Instruments | IC TRANSCVR TRI-ST 10BIT 24SO | Vizsgálat |
|
SN74ABT8646DW | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 28-SOIC | Vizsgálat |
|
SN74ABT8646DLR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 28-SSOP | Vizsgálat |
Latest News
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog