megvesz SN74ABT18504PMR BYCHPS-vel
Vásároljon garanciával
SN74ABT18504PMR
- Cikkszám:
- SN74ABT18504PMR
- Gyártó:
- Leírás:
- IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
- Ólommentes állapot / RoHS állapot:
- Ólommentes / RoHS megfelelő
- elérhető mennyiség:
- 16899 Pieces
- Adatlap:
- SN74ABT18504PMR.pdf
Bevezetés
Az BYCHIPS az állomány forgalmazója SN74ABT18504PMR, rendelkezünk a készletekkel az azonnali szállításhoz és hosszú távú szállításhoz is kapható. Kérjük, küldje el nekünk a vásárlási tervét SN74ABT18504PMR e-mailben, a lehető legjobb árat adjuk meg a tervnek megfelelően.
Műszaki adatok
| Tápfeszültség: | 4.5 V ~ 5.5 V |
|---|---|
| Szállító eszközcsomag: | 64-LQFP (10x10) |
| Sorozat: | 74ABT |
| Csomagolás: | Tape & Reel (TR) |
| Csomagolás / tok: | 64-LQFP |
| Üzemi hőmérséklet: | -40°C ~ 85°C |
| Bitek száma: | 20 |
| Szerelési típus: | Surface Mount |
| Nedvességérzékenységi szint (MSL): | 3 (168 Hours) |
| Gyártási szám: | SN74ABT18504PMR |
| Logikai típus: | Scan Test Device with Universal Bus Transceivers |
| Bővített leírás: | Scan Test Device with Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10) |
| Leírás: | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP |
| Email: | [email protected] |
Kapcsolódó alkatrészek az SN74ABT18504PMR-hoz
| Kép | Cikkszám | Gyártók | Leírás | Kilátás |
|---|---|---|---|---|
|
SN74ABT18504PMRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Vizsgálat |
|
SN74ABT18502PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Vizsgálat |
|
SN74ABT18245ADL | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP | Vizsgálat |
|
SN74ABT18245ADGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP | Vizsgálat |
|
SN74ABT18504PMG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP | Vizsgálat |
|
SN74ABT18640DLRG4 | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | Vizsgálat |
|
SN74ABT18504PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Vizsgálat |
|
SN74ABT18502PMR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP | Vizsgálat |
|
SN74ABT18640DLR | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP | Vizsgálat |
|
SN74ABT18646PM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP | Vizsgálat |
Latest News
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers
- Texas Instruments names Haviv Ilan senior vice president of High Performance Analog