megvesz SN74LVTH182502APMR BYCHPS-vel
Vásároljon garanciával
SN74LVTH182502APMR
- Cikkszám:
- SN74LVTH182502APMR
- Gyártó:
- Leírás:
- IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP
- Ólommentes állapot / RoHS állapot:
- Ólommentes / RoHS megfelelő
- elérhető mennyiség:
- 18516 Pieces
- Adatlap:
- SN74LVTH182502APMR.pdf
Bevezetés
Az BYCHIPS az állomány forgalmazója SN74LVTH182502APMR, rendelkezünk a készletekkel az azonnali szállításhoz és hosszú távú szállításhoz is kapható. Kérjük, küldje el nekünk a vásárlási tervét SN74LVTH182502APMR e-mailben, a lehető legjobb árat adjuk meg a tervnek megfelelően.
Műszaki adatok
| Tápfeszültség: | 2.7 V ~ 3.6 V |
|---|---|
| Szállító eszközcsomag: | 64-LQFP (10x10) |
| Sorozat: | 74LVTH |
| Csomagolás: | Original-Reel® |
| Csomagolás / tok: | 64-LQFP |
| Más nevek: | 296-29777-6 |
| Üzemi hőmérséklet: | -40°C ~ 85°C |
| Bitek száma: | 18 |
| Szerelési típus: | Surface Mount |
| Nedvességérzékenységi szint (MSL): | 3 (168 Hours) |
| A gyártó szabványos leadási ideje: | 6 Weeks |
| Gyártási szám: | SN74LVTH182502APMR |
| Logikai típus: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
| Bővített leírás: | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10) |
| Leírás: | IC SCAN-TEST-DEV/TRANSCVR 64LQFP |
| Email: | [email protected] |
Kapcsolódó alkatrészek az SN74LVTH182502APMR-hoz
| Kép | Cikkszám | Gyártók | Leírás | Kilátás |
|---|---|---|---|---|
|
SN74LVTH182512DGGR | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP | Vizsgálat |
|
SN74LVTH18652APM | Texas Instruments | IC TXRX/REG 18BIT 3.3V 64-LQFP | Vizsgálat |
|
SN74LVTH182502APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Vizsgálat |
|
SN74LVTH182504APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Vizsgálat |
|
SN74LVTH182652APM | Texas Instruments | IC SCAN TEST DEVICE ABT 64-LQFP | Vizsgálat |
|
SN74LVTH182646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Vizsgálat |
|
SN74LVTH18646APM | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Vizsgálat |
|
SN74LVTH18504APMR | Texas Instruments | IC 20BIT SCAN TST DEV UBT 64LQFP | Vizsgálat |
|
SN74LVTH18504APMG4 | Texas Instruments | IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP | Vizsgálat |
|
SN74LVTH18514DGGR | Texas Instruments | IC SCAN TEST UNIV TXRX 64TSSOP | Vizsgálat |
Latest News
- Xilinx Ships Industry's First 16nm All Programmable MPSoC Ahead of Schedule
- Xilinx and Samsung Jointly Enable the World's First 5G NR Commercial Deployment
- TI to reduce costs in Wireless business; OMAP™ processors and wireless connectivity solutions will focus on embedded markets
- TI's Peter Balyta to head Education Technology division; Melendy Lovett to retire
- Janet Clark to join TI board of directors
- TI unveils DLP® 0.66-inch 4K ultra-high definition (UHD) chip, enabling more affordable large screen projection displays for home, business and education
- GCHQ Director calls for international cyber pact
- Embedded World: Arm introduces fourth security element to PSA
- Last chance: Nominate BrightSparks before 28 February
- Embedded World 2019: Get the full Electronics Weekly Guide
- "Xcell Journal" Special Edition: Xilinx Customers Shape a Brilliant Future
- Xilinx Launches Public Access of the SDSoC Development Environment to Expand Zynq SoC User Base to Broad Community of Systems and Software Engineers